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X-ray 결정학(X-ray crystallography)은 X-ray의 회절 현상을 이용하여 결정의 원자나 분자 구조를 조사하는 측정 방법이다. 원자나 분자의 규칙적인 구조가 회절격자(diffraction gratings)의 역할을 하여 짧은 파장의 빛(X-ray)을 쬐어줬을 때 밝은 점과 어두운 점의 회절 무늬(diffraction pattern)가 나타나고 이를 푸리에 역변환(Fourier Inverse Transform)하여 결정의 구조를 밝혀낸다. 이러한 회절현상은 다중슬릿 실험을 통하여 쉽게 이해할 수 있다. 아래 그림과 같이 20개의 슬릿이 있고 각 슬릿을 열거나 닫을 수 있을 때, 열면 빛이 통과하여 회절 무늬를 만들 것이고 닫으면 빛이 차단된다. 본 실험에서는 각각의 슬릿을 조정해 다양한 회절무늬를 관찰하여 회절현상을 이해해본다.

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